熱物性は、情報通信、環境エネルギー、ナノテクノロジー・材料、バイオテクノロジー、宇宙開発など広範な分野において、熱解析・熱設計のための重要な情報である。 今日、半導体に代表されるさまざまな分野で、高集積化・高速化が進み、それに伴い熱の問題がクローズアップされてきているが、この問題を解決するためには、内部で発生する熱の流れや広がり、温度分布を把握することが重要であり、そのための薄膜の熱物性を測定することが必要不可欠である。ピコサームでは、産業技術総合研究所で開発された「パルス光加熱サーモリフレクタンス法」を実用化し、2008年に薄膜の熱物性を測定する受託分析サービスを開始。2011年に薄膜熱物性測定装置『NanoTR』を、2012年には薄膜熱物性測定装置『PicoTR』を完成させた。これまで測定が困難であった薄膜の熱拡散率、熱浸透率、熱伝導率、および多層膜の界面熱抵抗の測定が可能となり、製品の設計段階に利用することで発熱問題を解決することが可能に。国家標準レベルの信頼性の高い熱計測技術と解析技術およびSIトレーサブルな校正技術を通して、サーマルソリューションを提供する。